借助三维成像技术进行测量
扫描探针显微镜（SPM）利用显微镜探针扫描样品表面，可给出高放大倍数的三维观测结果。扫描探针显微镜分辨率高，仅次于透射式电子显微镜。显微镜垂直图像时，分辨率良好。单个纳米管（CNT）直径可借助高度进行准确测量。
图表表示单壁碳纳米管（SWNTs）的测量数据。碳纳米管顶点和左手侧的云母测量点用红色x标记。在横断面图中，这些位置均用红线表示。在不同测量位置，可见的单壁碳纳米管直径为1.72 nm和1.3 nm。
可借助拉曼测量值观察平均值。
（材料提供方：名古屋大学自然科学研究院筱原研究实验室）
直径1.72 nm
直径1.3 nm
扫描探针显微镜
扫描探针显微镜（SPM）利用显微镜探针扫描样品表面，可给出高放大倍数的三维观测结果。此显微镜可实现nm级观测，并可在气体或溶液中测量固体和膜表面形状。
