验证碳纳米管的金属/半导体特性
下图表表示单壁碳纳米管（SWNTs）的紫外光谱。
单壁碳纳米管的手性（“扭转变形”）决定了其直径和物理性质。例如：可确定其是否为金属或半导体。这些性质可反映电子结构。UV-VIS-NIR分光光度计用于测量可见光区和近红外区内金属和半导体的吸收光谱。
从图表中可观察到金属和半导体产生的三条线的波数。通过计算各状态密度，可预测三条线的波数分别代表碳纳米管的光跃迁。自较低能量端开始，依次为：S1（半导体），S2（半导体）和M2（金属）。
随着单壁纳米管（SWNT）直径的减小，吸收光谱带向高能量端转移。直径分布越广，吸收峰范围越宽。
单壁纳米管（SWNTs）的紫外光谱（样品由国家先进工业科技研究所纳米技术研究院提供）
UV-VIS-NIR分光光度计
可在紫外到红外的宽波长范围内进行光谱光度测量。
该仪器在光源处、检测器及积分球中使用基本不吸收深紫外光（DUV）的材料，并用氮气净化包括单色器和样品室在内的所有的光路，可以对165至3300nm宽波长范围的光谱进行测量（使用选配的DUV型）。
可在改变入射角度的同时测量光传输和光反射。XY平台支持平面内透射率逐点扫描。
